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    • 什么是Qg,MOS管Qg的概念詳解
      • 發(fā)布時(shí)間:2020-11-26 17:17:01
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      什么是Qg,MOS管Qg的概念詳解
      MOS管Qg的概念解析
      MOS管Qg概念
      MOS管Qg概念
      Qg(柵極電荷):柵極電荷Qg是使柵極電壓從0升到10V所需的柵極電荷,是指MOS開關(guān)完全打開,Gate極所需要的電荷量。
      雖然MOS的輸入電容,輸出電容,在反饋電容是一項(xiàng)非常重要的參數(shù),但是這些參數(shù)都是一些靜態(tài)參數(shù)。
      靜態(tài)時(shí),Cgd通常比Cgs小,實(shí)際在MOS應(yīng)用中,當(dāng)個(gè)Gate加上驅(qū)動(dòng)電壓后,于Mill效應(yīng)有關(guān)聯(lián)的Cgd會(huì)隨著Drain極電壓變化而呈現(xiàn)非線性變化,而且其電容值會(huì)比Cgs大20倍以上雖然Cgs也會(huì)隨著Grain-Source電壓變化,但是其數(shù)值變化不大,通常會(huì)增大10%-15%左右。所以很難用輸入,輸出電容來衡量MOS的驅(qū)動(dòng)特性。
      1.測試電路和波形
      通常用Qg(柵極電荷)來衡量MOS的驅(qū)動(dòng)特性
      MOS管Qg概念
      MOS管Qg概念
      如上圖1.3(1)在t0-t1時(shí)刻,Vgs開始慢慢的上升直到Vgs(th),DS之間電流才開始慢慢上升,同時(shí)Cgs開始充電,在此期間Cgd和Cgs相比可以忽略;
      (2)t1-t2時(shí)刻,Cgs一直在充電,在t2時(shí)刻,Cgs充電完成,同時(shí)Id達(dá)到所需要的數(shù)值,但是Vds并沒有降低;
      (3)t2-t3時(shí)刻,VDS開始下降,Cgs充電完成,而且Vgs始終保持恒定,此時(shí)主要對(duì)Cgd充電,此段時(shí)間內(nèi),Cgd的電容值變大,在t3時(shí)刻Cgd充電完成,通常這個(gè)時(shí)間要比t1-t2長很多;
      (4)在t3-t4時(shí)刻,t3時(shí)刻Cgd和ICgsE已經(jīng)充電完成,VGS電壓開始上.升直到驅(qū)動(dòng)IC的最高直流電壓。
      所以圖1.3中所標(biāo)識(shí)的(Qgd+Qgs)是MOS開關(guān)完全打開所需要的最小電荷量。實(shí)際計(jì)算Qg的數(shù)值為t0-t4時(shí)刻所需要的總電荷。
      根據(jù)Qg可以很容易計(jì)算出MOS管在一定的驅(qū)動(dòng)電流下完全打開需要的時(shí)間,Q=CV,I=C/T,所以Q=IxT。
      2. Qg和ID和VDS等的關(guān)系
      (1)Qg會(huì)隨著VDD的增加而增大;
      (2)Qg會(huì)隨著ID的增加而增大,因?yàn)镮D對(duì)應(yīng)的Vgs(th)也增加,響應(yīng)增加了Qg;但是增加的電荷量并不明顯
      (3)Ciss大的MOS并不表示其Qg就大,跨導(dǎo)是要考慮的一個(gè)因數(shù)
      MOS管Qg概念-Qg測試
      1.測試電路
      用信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生60KHz方波,輸入到L6386的LIN(PIN1)在LVG(PIN9)和PGND(PIN8)兩端產(chǎn)生相應(yīng)的驅(qū)動(dòng)方波來驅(qū)動(dòng)MOS,MOS的VDS沒有接電源。其中R2=24Ω。
      當(dāng)R1=56Ω,測試結(jié)果如下:
      MOS管Qg概念
      采用了PCB上的下橋MOS管的電路連接,圖2.1中Isense還接有一0.1Ω的取樣電阻到PCB的地。
      黃-信號(hào)發(fā)生器到SGND的波形,即LIN處的電壓波形;
      紅-LVG到SGND的波形;
      藍(lán)-LVG和PGND之間的電壓波形;(差分探棒測試)
      綠-MOS的Gate和PGND之間的電壓波形;(差分探棒測試)
      (1) 紅和藍(lán)之間的延時(shí)主要是因?yàn)樘桨舻念愋筒灰粯铀鶎?dǎo)致,藍(lán)、綠之間就沒有延時(shí);
      (2)在Rg= 80Ω(R1+R2) 時(shí),MOS完全打開的延時(shí)為160nS。
      估算Qg_min:Qg_min=VCCxtd/(R1+R2)=15x160/80=30nC,和Datasheet中的87nC相差很大。
      同時(shí)測試R1=180Ω時(shí),td=379nS,估算Qg_min=15/204x379=27.8nC,和80Ω的計(jì)算結(jié)果基本一致。
      MOS管Qg概念
      取下橋的驅(qū)動(dòng)電阻為56Ω,然后考慮到VDD和ID的影響,將td時(shí)間為1.5的系數(shù)。
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